서지주요정보
Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits
서명 / 저자 Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / by Manoj Sachdev and José Pineda de Gyvez.
저자명 Sachdev, Manoj;Sachdev, Manoj.;Pineda de Gyvez, José.
판사항 2nd ed.
발행사항 Dordrecht : Springer, c2007.
총서명 Frontiers in electronic testing ; 34

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WM0016775

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TK7871.99 .S121d

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서지기타정보

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청구기호 TK7871.99 .S121d 2007
형태사항 xxi, 328 p. : ill. ; 24 cm.
언어 English
일반주기 New edition of: Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits, 1998.
서지주기 Includes bibliographical references and index.
주제 Metal oxide semiconductors, Complementary --Testing.
Metal oxide semiconductors, Complementary --Defects.
Integrated circuits --Very large scale integration --Testing.
Integrated circuits --Very large scale integration --Defects.
ISBN 9780387465463 (hd.bd.) 0387465464:
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