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Grundlagen und Anwendung der Ro@ntgen-Feinstruktur-Analyse
서명 / 저자	Grundlagen und Anwendung der Ro@ntgen-Feinstruktur-Analyse / Hans Neff.
발행사항	Mu@nchen : R. Oldenbourg, 1959.

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등록번호

1010821

소장위치/청구기호

문지 보존서고

QC482 .N43 1959

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도서상태

이용가능(대출불가)

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서지기타정보

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청구기호	QC482 .N43 1959
형태사항	447 p. : ill. ; 24 cm.
언어	German
주제	X-rays --Diffraction. X-ray crystallography.
LCCN	65055848 /L

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