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Development of UMP unbiased test procedures for the exponential mean lifetime under accelerated life testing = 가속수명 검사하에서 지수분포의 평균에 대한 UMP 불편 검정절차의 개발
서명 / 저자 Development of UMP unbiased test procedures for the exponential mean lifetime under accelerated life testing = 가속수명 검사하에서 지수분포의 평균에 대한 UMP 불편 검정절차의 개발 / Yeong-Jun Ko.
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1989].
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MIE 8902

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초록정보

For the exponential lifetime, a conditional uniformly most powerful unbiased test for the mean is developed under accelerated life testing with replacement and Type-I censoring. The mean lifetime is assumed to be an exponential function of a stress. A simple sequential procedure is also developed based upon Monte Carlo simulation to construct an acceptance sampling plan.

본 논문은 replacement와 Type-I Censoring을 갖는 가속 수명 검사에 의해 얻어진 자료를 근거로 지수 분포를 따르는 수명의 평균에 대한 조건부 UMP 불편 검정 절차를 개발하였다. 평균 수명은 스트레스에 대한 지수 함수를 가정하였다. 또한, 생산자와 소비자의 위험 부담을 조절할 수 있는 가속 수명 검사 계획을 구성하기 위해서 전산 모의실험을 이용한 축차적 절차를 제시하였다.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MIE 8902
형태사항 [iii], 37 p. : 삽화 ; 26 cm
언어 영어
일반주기 저자명의 한글표기 : 고영준
지도교수의 영문표기 : Bong-Jin Yum
지도교수의 한글표기 : 염봉진
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 산업공학과,
서지주기 Reference : p. 35-37
주제 Exponential functions.
Sampling (Statistics)
수명 (생산) --과학기술용어시소러스
검사. --과학기술용어시소러스
지수 분포. --과학기술용어시소러스
수명 시험. --과학기술용어시소러스
Accelerated life testing.
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