서지주요정보
반도체레이저의 초단 펄스폭 측정 = Pulse width measurement of ultrashort semiconductor laser pulses
서명 / 저자 반도체레이저의 초단 펄스폭 측정 = Pulse width measurement of ultrashort semiconductor laser pulses / 서정식.
저자명 서정식 ; Suh, Zung-Shik
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1988].
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4104821

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MEE 8837

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초록정보

A pulse width measurement system based on the second harmonic generation method is implemented for ultrashort semiconductor laser pulses. Second harmonics of GaAs diode laser pulses (about 100 ps pulse width) are generated by a Lithium Iodate single crystal, and the pulse width is estimated from their autocorrelation trace. The same GaAs laser pulse train is also measured by a high speed GaAs PIN photodiode (rise time 50 ps) and a sampling oscilloscope (resolution 25 ps) to compare with the estimated pulse widths.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEE 8837
형태사항 [ii], 40 p. : 삽도 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Zung-Shik Suh
지도교수의 한글표기 : 신상영
지도교수의 영문표기 : Sang-Yung Shin
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과,
서지주기 참고문헌 수록
주제 Gallium arsenide semiconductors.
Solid-state lasers.
Sampling oscilloscope.
레이저 펄스. --과학기술용어시소러스
비소화갈륨. --과학기술용어시소러스
파형 측정. --과학기술용어시소러스
반도체 레이저. --과학기술용어시소러스
PIN 다이오드. --과학기술용어시소러스
Laser pulses, ultrashort.
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