An optimal accelerated life test plans is developed under periodic inspection and Type I censoring when the lifetime is exponentially distributed. The mean lifetime is assumed to be an exponential function of a stress, and the maximum likelihood estimation is used to obtain the estimates of unknown parameters at the use stress. The criterion adopted is the asymptotic variance of the estimated log mean lifetime at the use stress, and the decision variables consist of the low stress level and portions of test items allocated to each stress. Computational experiments are conducted to observe how optimal plans vary with respect to failures probabilities at the high and use stress and the number of inspections.
주기적인 검사와 Type I 센서링 하에서 수명시간이 지수분포를 따를때 최적 가속수명 시험계획을 개발하였다. 평균수명시간은 스트레스에 대한 지수함수로 가정하였고, 정상 스트레스에서의 미지의 모수들을 추정하기 위하여 최우추정 방법을 사용하였다. 정상 스트레스에서의 로그 평균수명의 추정치의 분산을 최적계획의 기준으로 채택하였고, 저 스트레스 수준과 각 스트레스에 할당되는 실험 제품 수들을 결정하였다. 고 스트레스와 저 스트레스에서의 고장 확률들의 변화와 검사횟수의 변화가 최적계획에 미치는 영향을 전산 실험을 통하여 분석하였다.
