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Nanoscale probing of electrical and physical properties of nanoplate based materials with atomic force microscopy = 원자력 현미경을 이용한 나노판 기반 물질의 전기적, 물리적 특성 연구
서명 / 저자 Nanoscale probing of electrical and physical properties of nanoplate based materials with atomic force microscopy = 원자력 현미경을 이용한 나노판 기반 물질의 전기적, 물리적 특성 연구 / Woo Seok Jeong.
저자명 Jeong, Woo Seok ; 정우석
발행사항 [대전 : 한국과학기술원, 2016].
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8028837

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MEEW 16008

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초록정보

There are several types of nanomaterials such as nanoplate, nanoparticle and nanowire. Research in these types of materials has proven to be a important approach for controlling the nanostructures for various applications. Here, we studied electrical and mechanical properties of Au nanoplate which has self-assembled monolayers on it and SnO nanoplate including structural analysis using atomic force microscopy (AFM), transmission electron microscopy (TEM), and scanning tunneling X-ray microscopy (STXM). For the struc-tural analysis, we used TEM and STXM. AFM was used to measure electrical and mechanical properties. AFM has capability to measure topological, electrical, and frictional properties simultaneously at the na-noscale which also can obtain surface potential image using Kelvin probe force microscopy (KPFM). In the section 2, mechanical and electrical properties of self-assembled organic monolayers on Au nanoplate was studied using AFM. Properties of self-asssembled organic monolayers on Au nanoplate is same as that on a Au (111) film, which enables Au nanoplate to be used as new building blocks for molecular electronics. In section 3, structure and electrical properties of SnO nanoplates was measured using a variety of techniques such as AFM, TEM, and STXM. We introduce tailoring the work function of SnO nanoplate through the comparision of the SnO nanoplate with heat treatment at $400^\circ C$ and $600^\circ C$, respectively.

나노 물질에는 필름, 나노판, 나노입자와 나노선 같은 다양한 형태의 물질들이 존재한다. 이러한 형태의 나노물질에 대한 연구는 여러가지의 응용을 위해 물질들의 형태를 조절할 수 있다는 점에서 그 중요성이 인식되어 왔다. 이에 따라, 우리는 자가조립 단분자막이 형성된 금 나노판의 기계적, 전기적 특성과 산화주석 나노판의 전기적 특성과 구조적 분석을 원자력 현미경, 투과전자현미경, X-선 나노 현미경을 이용하여 연구하였다. 나노판의 기계적, 전기적 특성을 분석하기 위해서는 원자력 현미경을 이용하였고, 투과전자현미경과 X-선 나노 현미경은 구조적 분석을 진행하기 위해 사용하였다. 원자력 현미경은 켈빈 탐침력 현미경을 이용하여 표면의 전기적 성질과 형상을 동시에 측정 할 수 있고 전도성 원자력 현미경을 이용하여 시료 표면의 전기적 성질과 마찰력, 형상을 동시에 측정 할 수 있다는 점에서 장점이 있다. 두번째 섹션에서 이러한 원자력 현미경을 이용하여 금 나노판 위에 자가조립된 단분자막의 기계적, 전기적 성질 연구 결과를 소개하였다. 금 나노판 위에 자가조립된 단분자의 성질들이 기존의 금 필름 위에서와 같은 성질을 보였고, 이는 금 나노판이 분자전자소자의 구성요소가 될 수 있음을 보여주고 있다. 세번째 섹션에서는 산화주석 나노판의 전기적 성질과 구조적 분석 결과가 나타나있고 산화주석 나노판을 400도와 600도에서 열처리한 시료와 비교하여 열처리 온도에 따른 일함수의 조절 과정을 설명하였다.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEEW 16008
형태사항 64 p. : 삽도 ; 30 cm
언어 영어
일반주기 저자명의 한글표기 : 정우석
지도교수의 영문표기 : Jeong Young Park
지도교수의 한글표기 : 박정영
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : EEWS대학원,
서지주기 References : p. 56-62
주제 Au nanoplate
SnO nanoplate
atomic force microscopy
transmission electron microscopy
scanning transmission X-ray microscopy
금 나노판
산화주석 나노판
원자력 현미경
투과전자 현미경
X-선 나노 현미경
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