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마이크로 컴퓨터를 이용한 DLTS-C-V 측정장치의 제작 = Implementation of an automated deep level transient spectroscopy and C-V measurement system with microcomputer
서명 / 저자 마이크로 컴퓨터를 이용한 DLTS-C-V 측정장치의 제작 = Implementation of an automated deep level transient spectroscopy and C-V measurement system with microcomputer / 김경태.
저자명 김경태 ; Kim, Kyeong-Tae
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1984].
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4102593

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MEE 8406

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초록정보

A simple, effective and flexible microcomputer-based deep level transient spectroscopy (DLTS) system for the measurement of deep levels in semiconductors is developed and implemented. By using assembly language program with micro-computer, excitation pulse frequency, pulse width and amplitude as well as emission rate windows are controllable and variable, and the temperature variation is also checked by the microcomputer. Furthermore, by using BASIC program with personal computer, least square curve fitting method is used to find Arrhenius plot and calculate activation energy. The trap density, activation energy and capture cross section of a gold doped pnp transistor(model no. 2N2422) are measured by the system in order to test the performance of the system. In addition, the DLTS spectra, Arrhenius plots and C-V plots can be plotted by a line printer and displayed in CRT monitor after one thermal scan.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEE 8406
형태사항 [i], 68 p. : 삽도 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Kyeong-Tae Kim
지도교수의 한글표기 : 경종민
지도교수의 영문표기 : Chong-Min Kyung
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기 및 전자공학과,
서지주기 참고문헌 : p. 67-68
주제 Least squares.
Electronic measurements.
Semiconductors.
심준위 과도 분광법. --과학기술용어시소러스
용량-전압 특성. --과학기술용어시소러스
최소 제곱법. --과학기술용어시소러스
개인용 컴퓨터. --과학기술용어시소러스
측정 계기. --과학기술용어시소러스
Transients (Electricity)
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