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(A) study on the sequential t-diagnosable systems
서명 / 저자 (A) study on the sequential t-diagnosable systems / Tae-Nam Kim.
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1981].
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This thesis attempts to construct a sequential t-diagnosable system with fewer number of tests than the previously best known class when 2t+1 < n < $(t+2)^2$ /4. A class of diagnosable systems S(n,m,a) is proposed. And for the class necessary and sufficient conditions of sequential t-diagnosability are obtainted. The class of system S(n,m,a) requires more tests than the class of optimal designs [14] by one or two tests when t = $\lfloor (n-1)/2 \rfloor$ . But when t approaches to $\lceil 2\sqrt{n} \rceil-3$ the number of tests reduces significantly. A conjecture is given with some evidence for its validity and correctness which, if true, determines an optimal sequential t-diagnosable system for every t.

본 논문에서는 sequential t-diagnosable system 을 비교적 간단한 방법으로 또 되도록 적은 수의 검사로 고장을 찾아낼 수 있도록 설계하는 방법에 관해 연구하였다. 새로운 구조를 갖는 system 군 S (n, m, a)를 제시했고 이러한 system들이 sequential t-diagnosable 이 되기 위한 필요 충분조건을 얻었다. 이 조건을 이용하면 비교적 쉽게 S (n, m, a)의 구조를 갖는 t-diagnosable system 을 찾을 수가 있다. t 의 값이 $\lfloor \frac{n-1}{2} \rfloor$ 일 때 S (n, m, a) 에서는 최적조건을 가진 Ciompi [14]의 system 에 비해 한개 또는 두개의 검사를 더 많이 필요로 한다. 그러나 t 의 값이 적어질수록 S(n, m, a)에서의 검사의 수가 Ciompi[14]의 system에 비해 점차로 적어지게 되어 t의 값이 $\lceil 2\sqrt{n} \rceil-3$ 에 접근하면 [14]의 경우보다 검사의 수는 훨씬 줄어들게 된다. 또한 S(n, m, a)의 구조를 갖는 system 중에서 최소한의 검사만을 필요로 하는 $S(n, m^*, a^*)$를 정해주는 식을 conjecture로 제시했다.

서지기타정보

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청구기호 {MCS 8106
형태사항 [ii], 39 p. : 삽화 ; 26 cm
언어 영어
일반주기 Includes appendix
저자명의 한글표기 : 김태남
지도교수의 영문표기 : Gil-Chang Kim
지도교수의 한글표기 : 김길창
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전산학과,
서지주기 Reference : p. 30-32
주제 Diagnosis.
진단 프로그램. --과학기술용어시소러스
시스템 검증. --과학기술용어시소러스
고장 진단. --과학기술용어시소러스
고장 검출. --과학기술용어시소러스
Faultfinding.
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