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(A) microprocessor based digital integrated circuit test system = 마이크로 프로셋서를 이용한 디지탈 집적회로 테스트 시스템
서명 / 저자 (A) microprocessor based digital integrated circuit test system = 마이크로 프로셋서를 이용한 디지탈 집적회로 테스트 시스템 / Dong-Jae Choi.
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1976].
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The digital integrated circuit logical functional tester is needed from the design and production phases of the integrated circuits to the utilization phase of them. Usually, in the design and production stage it is used to verify the design and to discriminate the defected circuits in the production line go/nogo type tests. In these phases, AC and DC parameter tests are usually accompanied to the logical functional tests. However, in the utilization phase, no parameter tests are performed. The logical functional tests are performed to validate the logical function of the circuit or to diagnose the faulty circuit in order to replace it with a fault free circuit. Therefore the digital integrated circuit test may be frequently utilized during the entire span of the digital integrated circuits life. In this dissertation, a simple digital integrated circuit test system is developed around a microprocessor. This system performs logical functional tests on the integrated circuits. Specific microprocessor chosen is Intel 8080, 9-bit CPU chip. This single CPU chip executes various Input/Output instructions to apply test patterns to device under test and to gather result back into memory. Furthermore, this microprocessor does much software fault diagnosis to locate faulty pins and to show the error type.

Digital 집적회로 logical functional tester는 digital 집적회로의 설계와 생산 및 이들의 사용에 필요하다. 대개, 설계 및 생산시에는 이것은 설계를 확인하고, 생산 라인의 go/no-go형테스트에서 불합격소자를 추출해 내기 위해 쓰인다. 이 경우에는 AC 및 DC parameter테스트도 logical functional test에 병행된다. 그러나 집적회로를 사용할 때는 parameter 테스트는 행하지 않는다. Logical functional 테스트는 회로의 logical function을 확인하거나, faulty circuit을 찾아내어 fault free circuit와 대체하기 위하여 쓰여진다. 그러므로 logical functional tester는 digital 집적회로의 모든 단계에서 쓰여진다. 이 논문에서는, microprocessor를 사용하여 digital 집적회로의 logical functional 테스트 시스템을 개발하였다. 여기에서는 microprocessor로서 Intel 8080 8-bit CPU chip이 사용되었다. 이 chip은 테스트하려고 하는 digital 집적회로에 테스트 패턴을 가하고, 그 결과를 기억소자에 다시 모으는, 여러가지 I/O instruction들을 수행한다. 그 외에도, 이 microprocessor는 faulty pin을 지적하고, error type을 보여주는 fault diagnosis도 아울러 수행한다.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEE 7619
형태사항 v, 81 p. : 삽화 ; 26 cm
언어 영어
일반주기 Includes appendix
저자명의 한글표기 : 최동재
지도교수의 영문표기 : Jung-Wan Cho
지도교수의 한글표기 : 조정완
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학과,
서지주기 Reference : p. 68-69
주제 Digital integrated circuits.
Logic design.
Microprocessors.
디지털 집적 회로. --과학기술용어시소러스
마이크로 프로세서. --과학기술용어시소러스
논리 해석기. --과학기술용어시소러스
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