Accelerated life tests(ALT) are frequently used to obtain information on the lifetimes of reliable products quickly. Most existing researches on accelerated life testing are concerned with the case of a single stress. In this research, we consider ALT's with two stresses which are expected to be able to obtain information on failure times more quickly than those with a single stress. Optimal ALT plans with two stresses are developed under Type I censoring when the lifetime is lognormally distributed. The relationship between the product life and stresses is assumed to follow generalized Eyring relationship. Optimal ALT plans with two stresses are compared with optimal ALT plans with a single stress. As a measure of comparison, we adopt the asymptotic variance of the estimate of the 10th percentile of the lifetime distribution at the use condition. Computational results are tabulized so that they may be readily available to the experimenters.
제품의 수명은 가장 중요한 품질특성치 중의 하나이다. 제품의 수명을 추정하여 주는데 수명검사가 이용되어왔다. 이전의 수명검사는 제품이 실제로 사용되어지는 조건하에서 검사되어 왔었다. 그런데 과학과 기술의 진보로 말미암아 제품의 신뢰도가 높아지고 수명이 길어지면서, 기존의 수명검사를 이용하는 것이 너무 많은 검사시간을 필요로 하기 때문에 사용조건보다 더 열악한 환경하에서 검사를 하는 가속수명시험을 이용하게 되었다.
기존의 논문들이 한개의 스트레스를 이용한 가속수명시험의 최적설계를 다룬데 반하여 본 논문은 두개의 스트레스를 이용한 가속수명시험의 최적설계를 해 주었고 한개의 스트레스를 이용한 가속수명시험과 비교해 주었다.
