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소장자료

상세 정보
서명 / 저자 RC 회로망을 이용한 on-wafer noise 측정 검증용 noise standard의 설계 = An on-wafer noise measurement verification standard using a pai-section RC network / 김지훈.
저자명 김지훈 ; Kim, Ji-Hoon
발행사항 [대전 : 한국정보통신대학원대학교, 2000].
online access
Online Access /thesis_pdf_01/2000/2000M00098...  원문
서가 정보
등록번호 소장위치/청구기호 도서상태 반납예정일
DM0000028 문지도서관2층 학위논문
ICU/MS00-09 2000  

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이용가능
대출가능확인

초록

상세 정보
형태사항 viii, 74 p. : 삽도 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Ji-Hoon Kim
지도교수의 한글표기 : 유형준
지도교수의 영문표기 : Hyuon-Joun Yoo
학위논문 학위논문(석사) - 한국정보통신대학원대학교 : 공학부,
서지주기 참고문헌 : p. 70-71
주제 On-wafer
Noise measurement
Verification
RC-network
Noise standard
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