본문 바로보기

menu

  • menu
  • menu
  • menu

소장자료

상세 정보
서명 / 저자 ENIG process 후 Ni(P) film에 나타나는 black pad현상 메카니즘에 대한 연구 = A study on finding on-off mechanism for black pad phenomena known to occur after ENIG process / 김규헌.
저자명 김규헌 ; Kim, Kyu-Hun
발행사항 [대전 : 한국과학기술원, 2009].
online access
Online Access /thesis_pdf_02/2009/2009M02007...  원문
서가 정보
등록번호 소장위치/청구기호 도서상태 반납예정일
8020642 학술문화관(문화관) 보존서고
MAME 09029  

SMS전송

이용가능
대출가능확인

초록

상세 정보
형태사항 vii, 54 p. : 삽도 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Kyu-Hun Kim
지도교수의 한글표기 : 유진
지도교수의 영문표기 : Jin Yu
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 신소재공학과,
서지주기 참고문헌 : p. 49-52
주제 black pad,;hypercorrosion,;ENIG,;surface defect,;nickel-phosphorous film
블랙패드,;부식,;무전해 니켈도금 이멀젼 금,;표면 결함,;니켈-인 박막
QR CODE QR code

print

청구기호 Browsing (유사한 주제의 도서 정보를 브라우징 할 수 있습니다.)
이전 다음
이 주제의 인기대출도서
한줄서평
상단으로 이동