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레이저를 사용한 나프탈렌 코팅 두께 측정 기법 개발을 위한 기초 연구 = A basic study of measurement of surface-coated naphthalene thickness using laser
서명 / 저자 레이저를 사용한 나프탈렌 코팅 두께 측정 기법 개발을 위한 기초 연구 = A basic study of measurement of surface-coated naphthalene thickness using laser / 박규섭.
저자명 박규섭 ; Park, Kyu-Sub
발행사항 [대전 : 한국과학기술원, 2003].
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8014575

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MME 03078

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초록정보

A basic study is performed to measure surface-coated naphthalene thickness using laser. A Naphthalene layer is made on a thin shiny aluminum slice using vapor plating. First, a diode laser is set up vertically above the naphthalene-coated surface and light of the laser is emitted on the surface. The reflected light is detected using a photo diode at an angle of 45 degrees. Second, the laser is set up above an angle of 45 degrees of the naphthalene surface and the reflected light is detected at an angle of 45 degrees on the opposite side of the laser. Furthermore, the experiment using a non-reflected aluminum slice is conducted in the same way. As a result, it is shown that there is the linear correlation between the naphthalene thickness and the output voltage of the photo diode. The optical method to measure surface-coated naphthalene thickness is laid the groundwork for by this study.

서지기타정보

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청구기호 {MME 03078
형태사항 v, 53 p. : 삽도 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Kyu-Sub Park
지도교수의 한글표기 : 송태호
지도교수의 영문표기 : Tae-Ho Song
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 기계공학전공,
서지주기 참고문헌 : p. 52-53
주제 나프탈렌
두께
레이저
나프탈렌 승화법
나프탈렌 코팅
naphthalene
thickness
laser
sublimation
naphthalene coating
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