Free space measurement (FSM) system using antenna is one of the methods for measuring the electromagnetic characteristics of the microwave absorber. Since most of these FSM system are evaluated based on the measurement results at one point, there is a limitation in confirming the results for the entire specimen. In this study, full-field scanning free space measurement (SFSM) system was developed which can measure and evaluate the electromagnetic characteristics in the whole specimen by combing the FSM system & 2-axial linear stage. The system validation and visualization was carried out by measuring the permittivity of Teflon specimen. The developed system visualized the electromagnetic characteristic distribution for microwave absorber and Glass/epoxy.
전파흡수구조의 전자기적 특성 측정을 위한 방법 중 하나로 안테나를 이용한 자유공간 측정 시스템이 있다. 이러한 자유공간 측정 시스템은 대부분 한 점에서의 측정결과를 바탕으로 시편 전체에 대한 평가를 진행하기 때문에, 시편 전영역에 대한 측정 결과를 확인 하는데 한계가 있다. 이에 본 연구에서는 자유공간 측정 시스템에 2축 선형 스테이지를 결합하여 시편 전영역에서의 전자기적 특성 측정 및 평가 할 수 있는 전영역 스캐닝 자유공간 측정 시스템을 개발하였다. 표준 시편 테플론에 대한 유전율 측정을 통해 시스템 검증 및 가시화 하였다. 개발된 시스템은 전파흡수구조 및 Glass/epoxy에 대한 전자기적 특성 분포를 가시화 하였다.