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슬릿광을 이용한 삼차원 형상측정 = Three-dimensional profile measurement using slit beam projection
서명 / 저자 슬릿광을 이용한 삼차원 형상측정 = Three-dimensional profile measurement using slit beam projection / 김명철.
발행사항 [대전 : 한국과학기술원, 1994].
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8004537

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MPE 94006

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초록정보

This paper presents an enhanced method of slit beam projection intended for the rapid measurement of 3-dimensional surface profiles of dies and molds. The finite element camera calibration method based on the two-plane camera calibration is newly suggested. In addition, precise and easy implementation techniques for the camera calibration method are presented. Special emphasis is given to optimizing the design of optical system so that the measuring accuracy can be maximized in a given measuring range. And, sub-pixel image processing techniques using polynomial curve fitting are implemented. Finally, several measurement examples are discussed to demonstrate that an actual measuring accuracy of ±0.1mm can be achieved over the measuring range of 500mm×300mm×200mm.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MPE 94006
형태사항 52 p. : 삽화 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Myung-Cheol Kim
지도교수의 한글표기 : 김승우
지도교수의 영문표기 : Seung-Woo Kim
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 정밀공학과,
서지주기 참고문헌 : p. 25-27
주제 Three-dimensional measurements.
Image processing.
Surface roughness.
Camera --Calibration.
슬릿. --과학기술용어시소러스
형상 측정. --과학기술용어시소러스
광학적 측정. --과학기술용어시소러스
화상 처리. --과학기술용어시소러스
화상 보정. --과학기술용어시소러스
Optical measurements.
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