Accelerated life testing is widely used to quickly obtain lifetime data of a product. On the other hand, degradation testing can be also used to estimate the lifetime of a product by relating performance degradation data with lifetimes. This testing has an advantage that the lifetime of a product can be predicted before any specimen fails. Accelerated degradation testing employs accelerationg stresses that hasten the degradation of product performance, and this may further accelerate the test. In this thesis, we develop statistically optimal accelerated degradation test plans under the assumption of Arrhenius degradation rate. As a criterion of optimization, we adopt the asymptotic variance of the estimator of the mean of the lifetime distribution. Also, such optimal accelerated degradation test plans are compared with optimal accelerated life test plans. The comparison results show that accelerated degradation test plans are in general better than accelerated life test plans unless the probability of failure at time 0 is large.
제품의 주요 품질특성치인 수명에 관한 정보를 빨리 얻기 위한 방법으로 가속수명시험이 널리 보급되어 왔다. 한편, 열화시험은 수명에 관련된 열화 테이타의 관측을 통해 제품의 수명을 추정하는데 사용될 수 있다. 이 시험방법은 제품이 고장을 일으키기 전에 데이터 분석이 가능하다는 장점이 있다. 가속열화 시험은 사용조건 보다 더 열악한 조건을 사용함으로써 짧은 시간내에 열화를 촉진시키며 그 결과 시험이 더욱더 가속화될 수 있다. 본 연구에서는 사용조건하에서의 평균수명추정치에 대한 점근분산을 설계기준으로 최적가속열화시험 계획을 개발하였으며, 그 결과를 가속수명시험의 결과와 비교하여 초기고장확률이 지나치게 크지 않다면 가속열화시험이 가속수명시험보다 전반적으로 우수하다는 것을 보였다.
