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(The) fabrication and characterization of PI-HFET (P-type insulated gate heterostructure FET) = PI-HFET(P-type insulated gate heterostructure FET)의 제작과 특성 측정
서명 / 저자 (The) fabrication and characterization of PI-HFET (P-type insulated gate heterostructure FET) = PI-HFET(P-type insulated gate heterostructure FET)의 제작과 특성 측정 / Jong-Hee Han.
발행사항 [대전 : 한국과학기술원, 1990].
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MEE 9094

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초록정보

For VLSI application, DCFL is needed duc to its low power consumption without decreasing the speed. DCFL requires high gate-to-channel barrier height. Existed GaAs MESFET or HFETs whose gate materials are metal or $n^+$-semiconductor have low barrier heights, 0.7-1.2[eV]. On the other hand $p^+$-type. GaAs gate offers a higher barrier height, -1.8 [eV] for channel electrons. But the barrier height for the holes in $p^+$ -type gate is -1.4 [eV]. The fabricated PI-HFETs show 1.2[V] cut-in voltage.

VLSI 구현을 위한 논리 소자로는 게이트 당 전력 소비와 빠른 속도로 인해 DCFL 이 가장 적합하다. DCFL 이 GaAs FET 로 구현되기 위해서는 트랜지스터의 channel 과 gate 사이의 에너지 장벽이 충분히 커야 한다. 기존의 MESFET 나 HFET 는 gate 물질로 금속이나 $n^+$ 반도체를 이용하므로 $0.7 \sim 1.2$ [eV] 의 에너지 장벽을 갖고 있다. 반면에 $P^+$-형 gate 를 갖는 트랜지스터는 channel 에 있는 전자에 대해 $\sim 1.8$[eV] 의 에너지 장벽을 제공한다. 그러나, $P^+$-형 gate에 있는 정공에 대해서는 $\sim$1.4 [eV] 의 상대적으로 낮은 에너지 장벽을 제공한다. 제작된 PI-HFET 에서는 1.2[V] 의 gate cut-in 전압을 갖는다.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEE 9094
형태사항 [ii], 48, [1] p. : 삽화 ; 26 cm
언어 영어
일반주기 저자명의 한글표기 : 한종희
지도교수의 영문표기 : Young-Se Kwon
공동교수의 영문표기 : Kwy-Ro Lee
지도교수의 한글표기 : 권영세
공동교수의 한글표기 : 이귀로
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학과,
서지주기 Reference : p. 46-48
주제 Gallium arsenide semiconductors.
Metal semiconductor field-effect transistors.
HEMT. --과학기술용어시소러스
MESFET. --과학기술용어시소러스
VLSI. --과학기술용어시소러스
퍼텐셜 장벽. --과학기술용어시소러스
비소화갈륨. --과학기술용어시소러스
Modulation-doped field-effect transistors.
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