SERS 용 Ag 극판의 표면거칠기 : 레이저 speckle 간섭광학의 이용 = Surface roughness of SERS Ag electrode : laser speckle interferometric studies

• 서명 / 저자: SERS 용 Ag 극판의 표면거칠기 : 레이저 speckle 간섭광학의 이용 = Surface roughness of SERS Ag electrode : laser speckle interferometric studies / 이택현.
• 발행사항: [서울 : 한국과학기술원, 1985].

Using the technique of speckle interferometry, we have studied the statistical characteristics of the roughness produced at the silver surfaces in the electrochemical cell under the conditions of surface enhanced Raman Spectroscopy(SERS).
At the conditions for the maximum SERS intensity, the silver electrode is found to have the averaged roughness amplitudes in the range between 500Å and 800Å with correlation length as long as 8μm.
We also found that the roughness behaviours were dependent very much on the duration as well as voltage height of the Oxidation and Reduction Cycles.

• 형태사항: [ii], 48 p. : 삽화 ; 26 cm
• 언어: 한국어
• 일반주기: 저자명의 영문표기 : Taek-Hyun Lee ; 지도교수의 한글표기 : 김종진 ; 지도교수의 영문표기 : Jong-Jean Kim
• 학위논문: 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 물리학과,
• 서지주기: 참고문헌 수록
• 주제: Laser speckle. ; Surface roughness. ; Silver. ; 표면 증강 Raman 산란. --과학기술용어시소러스 ; 표면 거칠기. --과학기술용어시소러스 ; 스페클. --과학기술용어시소러스 ; 은. --과학기술용어시소러스 ; Raman effect, Surface enhanced.