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Characterization of one-dimensional impurity profile in silicon using iterative parabolic solver = 수치해석 프로그램을 이용한 실리콘에서의 일차원적 불순물 분포의 산출
서명 / 저자 Characterization of one-dimensional impurity profile in silicon using iterative parabolic solver = 수치해석 프로그램을 이용한 실리콘에서의 일차원적 불순물 분포의 산출 / Hyeong-Cheol Oh.
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1984].
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MEE 8422

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A computer program (DIFSIM : DIFfusion SIMulator) was written to calculate the impurity profile, specifically boron and phosphorus, due to three different diffusion processes-predeposition, drive-in in inert ambient, and drive-in in oxidizing ambient. The vacancy mechanism including Fair and Tsai's theory for phosphorus diffusion was widely incorporated for modelling various diffusion processes. The concentration-dependent oxidation rate was also explained using the vacancy model, while the oxidation-enhanced diffusion was modelled using Watkins replacement mechanism. The simulation results using DIFSIM show a fairly good agreement with the experimental data, by adjusting some of the empirical parameters in the program. The results obtained using DIFSIM was also compared with SUPREM II, version 0-05, the mostly being-used process simulator.

3가지 확산공정 - Predeposition, 질소 분위기 에서의 drive-in 및 산화분위기에서의 drive-in 에 대한 불순물 (붕소와인) 분포를 계산해 내는 컴퓨터 프로그램(DIFSIM)을 제작하였다. 이들 확산공정을 설명하는데는 Vacancy 메카니즘을 사용하였으며, 특히 인의 경우에는 Fair 와 Tsai의 이론을 이용하였다. 불순물 농도에 의존되는 산화속도는 Vacancy 메카니즘으로 산출하였으며, 산화공정시의 활발해지는 확산 현상은 Watkins replacement 메카니즘으로 산출 하였다. DIFSIM 을 이용한 산출결과는 실험결과와 매우 잘 일치하였으며, 이 결과를 요즘 널리 쓰이고 있는 기존의 프로그램 SUPRENII Version 0-05의 결과와 비교해 보았다.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MEE 8422
형태사항 ii, 88 p. ; 삽화 : 26 cm
언어 영어
일반주기 저자명의 한글표기 : 오형철
지도교수의 영문표기 : Chong-Min Kyung
지도교수의 한글표기 : 경종민
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 전기및전자공학과,
서지주기 Reference : p. 83-86
주제 Silicon.
Electrolytic oxidation.
Computer simulation.
불순물 확산. --과학기술용어시소러스
불순물 분포. --과학기술용어시소러스
시뮬레이터. --과학기술용어시소러스
수치 해법. --과학기술용어시소러스
Semiconductors --Diffusion.
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