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KDP 결정에서 유전상수의 저주파 분산 = Low frequency dielectric dispersion in KDP crystal
서명 / 저자 KDP 결정에서 유전상수의 저주파 분산 = Low frequency dielectric dispersion in KDP crystal / 김종기.
발행사항 [서울 : 한국과학기술원, 1984].
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4102368

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MAP 8408

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초록정보

Low frequency dielectric dispersion of C-Cut KDP Crystal was measured in the frequency region from 100HZ to 5MHZ by RC-series circuit Voltage dividing technique. There were four separated frequency regions different in dispersion behaviours; low frequency relaxation, domain wall motion resonance, piezoelectric resonance, high frequency relaxation. Contribution of lateral and longitudinal wall motion to the dielectric constant was considered. Also, piezolelectric resonance was observed to be excited by the D.C field poling of the sample.

서지기타정보

서지기타정보
청구기호 {MAP 8408
형태사항 [ii], 63 p. : 삽화 ; 26 cm
언어 한국어
일반주기 저자명의 영문표기 : Jong-Ki Kim
지도교수의 한글표기 : 김종진
지도교수의 영문표기 : Jong-Jean Kim
학위논문 학위논문(석사) - 한국과학기술원 : 물리학과,
서지주기 참고문헌 : p. 62-63
주제 Dielectric measurements.
Dispersion.
강유전체. --과학기술용어시소러스
유전률. --과학기술용어시소러스
분산. --과학기술용어시소러스
Ferroelectric crystals.
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