An automatic transistor testing system using microcomputer system 85 is designed and implemented to execute several parameters of transistor-current gain, breakdown voltage, and leakage current. This system consists of hardwired transistor testing system and MCS85, 8 bit word microcomputer with key board and teletypewriter. And the computer system will generate clocks of programmed length for system timing pulse. The hardwired transistor testing system consists of two programmable voltage sources and two programmable current sources, the switching parts and measurement circuitry. Hardwired system measures current gain, breakdown voltage, and leakage current. The computer system compares this data with given comparison limit and decided either Go or No Go. The system speed is 7,000 per hour including one handler.
There is a growing tendency that the Automatic System instead of the conventional labor-forced system is developed for mass production and high quality.
반도체소자 생산공장에서 대량 생산된 트랜지스터의 파라메터를 자동적으로 테스트 처리하는 측정기는 국내유수의 생산업체에서 필요로 하는 기계이다. 더우기 본 시스템의 기본원리와 응용은 트랜지스터 측정기뿐 아니라 다른 자동측정기에까지 넓은 응용을 가능케 해주고 있다.
본 시스템은 각 파라메터를 측정하는 측정부와 분석, 명령 및 판단의 역할을 하는 컴퓨터부로 구성되었다. 마이크로프로세서를 사용하는 이점을 최대안 살려 비교, 판단, 시스템클럭 발생 및 자기 진단등의 기능을 하드웨어대신 프로그램으로 가능케 함으로써 하드웨어를 간단히 하고자 노력했다.
본 시스템은 vector interrupt RST 7.5, RST 6.5를 handler의 ready를 알리는 신호와 측정부에서 측정된 자료를 읽히기 위한 또는 파라메터의 측정완료를 알리는 신호로 이용함으로써 정밀성과 real time을 가능케 하였다. 본 연구에서 남은 문제인 본 컴퓨터 시스템과 소형 및 범용 컴퓨터와의 통신은 상당히 흥미있는 문제로 생각된다.
