Positron annihilation measurements for annealed, cold-worked, annealedquenched, and cold-worked and hydrogen-charged hafnium specimens were made to investigate kinds of defects existing in the specimens, interaction between defects and hydrogen atoms and behavior of defects on isochronal annealing.
Lifetime and Doppler broadening lineshape measurements for cold-worked and hydrogen-charged specimens indicated that a new kind of positron traps as well as dislocations are produced during hydrogen charging. It was inferred that the new positron traps formed are hydrogen bubbles or voids.
Doppler broadening lineshape parameter P/W for cold-worked hafnium specimens increased first and then decreased due to the proton screeing of some defects, and this sequence was repeated when their hydrogen-charging was continued.
Positron annihilation characteristics and microhardness of cold-worked, and cold-worked and hydrogen-charged hafnium specimens isochronally annealed were compared to study recovery and recrystallization stages of hafnium specimens.
The general trend observed was an increase of the positron lifetime after hydrogenation. It was inferred that this increase in lifetime is attributed to the covalent nature of the Hf-H bond of hafnium hydride
소둔, 소둔후 급냉 및 냉간가공후 수소를 주입한 하프늄시편에 대한 양전자소 멸측정으로 각시편에 존재하는 결함의 종류, 각 결함과 수소원자와의 반응 그리고 등시소둔에 의한 결함거동을 조사하였다.
냉간가공후 수소를 주입한 시편에 대한 양전자수명 및 Doppler broadening lineshape parameter P/W를 측정한 결과 수소주입에 의하여 전위는 물론 새로운 종류의 결함이 발생하는 것으로 나타났으며, 이 새로운 종류의 결함은 수소버블(bubble) 또는 공공(void)으로 추정된다.
냉간가공된 시편에 대하여 수소주입시간에 따라 P/W를 측정한 결과 처음에는 수소주입에 의한 결함발생으로 P/W값이 증가하다가 일정한 값에 도달 한 후 양자차폐효과(proton screening effect)에 의하여 P/W값이 감소하며 수소주입시간에 따라 이와 같은 P/W값의 증감이 반복적으로 나타났다.
양전자소멸측정 및 미세경도측정방법을 이용하여 등시소둔에 의한 냉간가공시편 및 냉간가공후 수소를 주입한 시편의 회복 및 재결정거동을 비교 조사하였다.
수소화된 하프늄시편에 대한 양전자수명 측정결과 소둔시편에 비하여 양전자 수명이 상당히 증가함을 관찰하였다. 이와 같이 수소화된 하프늄시편에서 양전자수명이 증가하는 것은 수소화물에서 하프늄과 수소의 공유결합특성에 기인하는 것으로 추정된다.